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  • diatest測量臺505-C2-JS用于內(nèi)部和外部測量

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    更新時間

    2024-01-08

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  • diatest剖分球探頭T-0.50用于孔徑測量

    diatest剖分球探頭T-0.50用于孔徑測量,模塊化設計與廣泛的附件相結合,可以測量最常見的孔。這允許使用串行和單獨控制,以及優(yōu)先在工廠直接在生產(chǎn)機器上使用。

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    2024-01-08

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